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iPhone 6 및 iPhone 6 Plus, 첫 번째 낙하 테스트에서 균열 발생

2014년 9월 18일 목요일 오후 10:08 PDT 작성: Husain Sumra

이미 여러 국가에서 iPhone 6 및 iPhone 6 Plus의 출시가 진행됨에 따라 많은 회사에서 장치에 대한 테스트 및 벤치마크를 수행하기 시작했습니다. 폰버프 는 두 개의 장치를 가져와서 각각의 뒷면, 측면 및 앞면에 떨어뜨리는 낙하 테스트를 거쳤습니다.






iPhone 6은 측면과 후면을 떨어뜨렸을 때 잘 되었지만 얼굴에 떨어뜨렸을 때 당연히 문제가 되었습니다. 반면 6플러스는 옆으로 떨어졌을 때 금이 갔다. 그러나 얼굴에 떨어질 때 더 큰 피해를 입지는 않았습니다.

이 한 가지 테스트를 기반으로 두 전화기 모두 '매우 내구성'으로 설명된 iPhone 5 디자인보다 성능이 낮았을 수 있으며 이전 낙하 테스트에서 유사한 낙하를 견뎌냈습니다. 표준화된 테스트 없이는 확실한 결론을 내리기가 어렵습니다.